Автоматическая система тестирования светодиодов на базе модульной платформы NI PXI позволяет проводить измерения электрических и световых характеристик источников оптического излучения. К таким устройствам можно отнести различного вида дисплеи и светодиодные экраны (кластеры, LED-матрицы и SMD-элементы), а также световые элементы и прочие устройства с источниками оптического излучения.
Для тестирования электрических и оптических параметров, анализа результатов измерения и мониторинга температурных и оптических параметров используется графическая среда разработки LabVIEW и гибкое аппаратное обеспечение PXI. Благодаря этому можно подключаться к системе с внешними оптическими измерителями (спектрометрами, люксметрами и т. д.) и работать с различными диаметрами сфер.
Благодаря автоматической системе можно проводить измерения зависимости оптических и электрических параметров от температуры, измерения спектра цвета, яркости, эффективности и излучаемой интенсивности, а также коэффициента пульсации источников излучения неограниченное количество раз.
В дополнение, неоспоримым преимуществом системы является возможность одновременного измерения массива светодиодов до 128 шт.
