Новая серия систем проверки длины волны VIAVI mSWS-A2 на основе платформ VIAVI MAP-200 представляет собой продолжение развития стандартного отраслевого решения для измерения вносимых потерь (IL), поляризационно-зависимых потерь (PDL), возвратных потерь (RL) и направленности устройств DWDM.
Система обеспечивает оптические характеристики, необходимые для тестирования DWDM-устройств нового поколения с высоким разрешением по длине волны как в научно-исследовательской, так и в производственной среде.
VIAVI mSWS-A2 поднимает планку скорости, точности и разрешения тестирования, сохраняя при этом свою запатентованную архитектуру, позволяющую проводить тестирование с наименьшими затратами в отрасли.
Система VIAVI mSWS-A2 проверяет оптические характеристики новейших оптических компонентов и модулей, в том числе CDC (Colorless, Directionless, Contentionless) ROADM, переключатели длины волны с большим количеством портов, настраиваемые фильтры и печатные платы. К возможностям предыдущего поколения перестраиваемого лазера и оптического модуля источника (SOM) SWS2000, новая система VIAVI mSWS-A2 добавляет измерительный приемник следующего поколения на основе испытательной платформы VIAVI Solutions MAP-300 Photonics.
Имея абсолютную погрешность измерения длины волны ±0,002 нм во всем диапазоне от 1520 до 1630 нм, VIAVI mSWS-A2 обеспечивает максимальные технические характеристики при 100 нм/с, что вдвое больше, чем у предыдущих поколений. Помимо этого, добавлена новая функция разрешения с переменной длиной волны, которая позволяет пользователям выбирать разрешение от 0,4 до 3 пм.
Благодаря динамическому диапазону >70 дБ система VIAVI mSWS-A2 обеспечивает лучшую в отрасли производительность в сочетании с низкой стоимостью владения. Запатентованная распределенная архитектура поддерживает до восьми отдельных, индивидуально управляемых измерительных станций на каждый лазерный источник. Часто измерительная станция, приобретаемая первоначально как инструмент для НИОКР, за счет своей масштабируемости позволяет клиентам гибко переводить оборудование от НИОКР к производству.
Установленные системы VIAVI SWS2000 можно модернизировать, добавив новые измерительные станции на базе VIAVI mSWS-A2, чтобы максимизировать выгоду для существующих пользователей в рамках существующей инфраструктуры. VIAVI mSWS-A2 напрямую измеряет IL, PDL и вносимые потери в зависимости от длины волны и измеряет RL с помощью дополнительных модулей RL.
Используя необработанные данные IL и PDL, комплексный набор инструментов анализа недавно обновленного, простого в использовании прикладного программного обеспечения рассчитывает эти параметры относительно измеренного пика, сетки ITU или определяемой пользователем сетки:
пиковые потери;
центральная длина волны, от порога Х дБ;
потери на центральной длине волны;
полоса пропускания при пороге x дБ;
перекрестные помехи, влево/вправо и совокупные;
плоскость.
Набор уровней канала передачи данных (DLL) VIAVI mSWS-A2 может использоваться для разработки программного обеспечения, отвечающего индивидуальным требованиям тестирования. Библиотеки DLL работают через аппаратное обеспечение приемника VIAVI mSWS-A2, обеспечивая доступ ко всем функциям SWS. Используя поставляемые библиотеки DLL, пользователи могут разрабатывать приложения в средах Visual Basic, C, C++ или LabView.
С помощью 4-позиционного контроллера поляризации, расположенного внутри SOM, можно быстро измерить PDL и средние потери в зависимости от длины волны. Он может измерять четыре состояния поляризации при 0°, 90°, -45° и круговую поляризацию и использует матричный анализ Мюллера для точного определения PDL на всех сканируемых длинах волн.
Интеграция функций VIAVI mSWS-A2 в платформу MAP-300 позволяет пользователям получить доступ ко всем возможностям модулей MAP-300. Тестовые системы можно автоматизировать с помощью дополнительных переключателей и лазерных источников. Установка на MAP-300 различных инструментов для проверки чистоты разъемов предохраняет их от загрязнения и, следовательно, от искажения результатов измерений.
Ключевые преимущества
Определение всех оптических характеристик в диапазонах C и L устройств с большим количеством портов менее чем за 5 секунд в максимальном динамическом диапазоне с беспрецедентным разрешением по длине волны;
Запатентованная архитектура параллельного тестирования значительно увеличивает объем производства при относительно небольших первоначальных вложениях;
Увеличивает производственную мощность без ущерба для производительности, позволяя производить тестирование в два раза быстрее;
Снижает потребность в занимаемой площади вдвое по сравнению с SWS предыдущих поколений, минимизируя накладные расходы;
Увеличенное время безотказной работы благодаря своевременному местному обслуживанию.
Ключевые особенности
Масштабируемая архитектура – возможность добавления до 7 дополнительных измерительных станций, всего 8, работающих от одного распределенного настраиваемого лазерного передатчика TLS / SOM;
Абсолютная точность определения длины волны: ±0,002 нм;
До 256 каналов детекции на одну станцию;
Высокая скорость сканирования (управляемая пользователем): до 40 нм/с;
Гибкое, простое в использовании программное обеспечение и настраиваемые приложения через библиотеки динамической компоновки (DLL).
Приложения
Определение характеристик оптических компонентов и модулей в научно-исследовательской и производственной средах:
ROADM, переключатели длины волны, блокираторы длины волны;
Оптические печатные платы;
Мультиплексоры с плотным спектральным уплотнением (DWDM) и грубым спектральным мультиплексированием (CWDM);
Настраиваемые фильтры, ответвители, разветвители, переключатели, аттенюаторы, волоконно-оптические решетки Брэгга (ВБР), перемежители, дихроичные фильтры;
Микроэлектромеханические системы (МЕМ) и волноводные устройства.
Сертификация и соответствие требованиям техники безопасности
Соответствует требованиям CE, а также UL3101.1 и CAN/CSA - C22.2 No. 1010.1. Лазер в модуле источника оптического сигнала (SWS20010) относится к классу 1. Настраиваемый лазерный источник (SWS17101 и SWS18101) относится к лазеру класса 3B. Оба устройства классифицированы в соответствии со стандартом IEC 60825-1 (202) и соответствуют 21CFR1040.10, за исключением отклонений в соответствии с Уведомлением о лазерах № 50, июль 2001 г.
